形弯曲试验
T形弯曲试验是检验涂层钢板附着力和韧性的一种常用的方法。T形弯曲与加工性能相联系。弯曲程度表示为OT、IT、2T、3T等。OT弯曲被定义为试样经180"弯曲(涂膜在弯边的外侧),弯曲压平,使试样的两弯曲边之间没有空间;1T弯曲是试样板绕**次弯曲边(OT试样一边)卷绕或样板两边之间夹垫一块试样板后弯曲并压紧压平,弯边之间是1个试样板厚度即为1T,弯边之间是2个试样厚度即为2T,等等,如图5-17所示。T形弯曲性能的测定,可在台虎钳或压弯成型机上进行,试验按供需双方商定的环境条件、弯曲方向(板的横向或纵向)、仪器条件进行。具体操作是,将一图5-17OT弯曲和1T弯曲试样的一端插入台虎钳(或压弯成型机),测试面在外侧,先把试样弯曲至90".然后从台虎钳中取出,并用手继续向180"弯曲直至用手不能弯曲的锐角,然后插人台虎钳中压弯,完成OT弯曲。IT弯曲、2T弯曲也如此进行。弯曲后在整个弯曲长度上牢固地贴敷规定的或供需双方商定的牌号的胶带(一般为3M胶带).将空气挤压干净后迅速拉去胶带,用肉眼或双方商定的放大镜检查涂膜的剥落等破坏程度。可参考GB232-88《金属弯曲试验方法》或GB/T15825.5-20081《金属薄板成型性能与试验方法*五部分:弯曲试验》。弯曲试验结果评定的另一方法见表5-9,按此表要求进行弯曲试验后,距试样宽度两端7mm以上的部位,其外侧表面不得发生剥离。
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表面粗糙度
指涂层表面平整及光洁的程度,是涂层表面较小间距和微观峰谷不平度的微观几何特性。涂层表面几何形状误差的特征是凸凹不平。凸起处称为波峰,凹陷处称为波谷。两相邻波峰或波谷的间距称为波距(L),相邻波峰与波谷的水平距离差称为波幅(H),见图5-15[1表面几何形状误差根据涂层波幅对波距的比值大小可分为形状误差、波纹度和粗糙度三类,即:DL/H>1000时,称为表面形状误差;050
检测中的注意事项如下。
0测量方向。测量方向不同,结果也不同。如图5-16所示,测量方向不同,结果也不同。在图5-16中,A为垂直加工刀纹测量,能真实反应表面粗糙度,即其粗糙度值R,和R,值较小。R,:称为轮廓算数平均值,指在基本长度内,被测轮廓上各点至轮廓中线距离(取其平均值)的总和的平均值。故R,的几何意义是涂层表面的截面轮廓曲线。R,:称轮廓微观不平度10点高度值,指在取样长度内5个较大的轮廓峰高的平均值与5个较大的轮廓谷深的平均值之差,亦即R2是10点平均高度值。R,值可直接通过粗糙度仪测得,而R,值则不可直接测量。故工程上通常选用R,值作为衡量表面粗糙度的指标。2、测量部位。要选择涂层中有代表性的部位测量,因为涂层各部分可能粗糙度不同。
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对颜色的选择主要是考虑与周围环境的匹配和业主的爱好,但从使用技术角度讲浅颜色涂料的颜料选择余地大,可选择耐久性优越的无机涂料(如钛白粉等),而且涂料的热反射能力强(反射系数达到深色涂料的一倍)夏季涂层本身的温度相对就低,这对涂层寿命延长是有益的。另外,即使涂层变色或粉化,浅颜色涂膜变化后与原颜色的反差小,对外观的影响就不大。而深颜色(尤其是比较鲜艳的颜色)采用**颜色的居多,遇紫外线照射容易褪色,较短的3个月就变颜色。
据相关试验资料表明,在夏季中午外界温度较高时,白色表面比蓝色表面温度低10度,比黑色表面低19度。不同颜色对太阳光的反射能力是不同的。
较早的"氟碳涂料"其实早在1938年就诞生了,就是大家熟知的杜邦公司的特氟隆涂层,即聚四氟乙烯(PTFE)、聚全氟丙烯(FEP)等共聚合物。这类材料其*特优异的耐热(180℃-260℃)、耐低温(-200℃)、自润滑性及化学稳定性能等,而被称为"拒腐蚀、粘的特富龙",氟碳漆一般分为三氟和四氟,四氟的防腐性能更高。
氟碳涂料优良的防腐蚀性能--得益于较好的化学惰性、漆膜耐酸、碱、盐等化学物质和多种化学溶剂,为基材提供保护屏障;该漆膜坚韧--表面硬度高、耐冲击、抗屈曲、耐磨性好,显示出较佳的物理机械性能。
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(1)磁性法原理是以探头对磁性基体的磁通量或互感电流为基准,利用其表面的非磁性涂层或镀层的厚度的不同,根据探头磁通量或互感电流的线性变化值来测定涂层的厚度。用于磁性测量膜厚的测厚仪型号有很多,测试结果通常可用指针指示。或者数字显示。磁性法适用于测定磁性基体材料上的非磁性涂膜厚度,美国1ASTM标准中规定,尤其适用于厚度小于13um的涂膜。在操作这类仪器时,首先必须要让仪器稳定后调整其零点,任何位置“0"位误差不得大于1um,随后要用标准片校正仪器,标准片厚度应**测量刻度的一半。这两种校正,使仪器能在正常的状态下工作,保证仪器测量的准确度。最后进行试样厚度的测量。在实际测量中应注意的是,基板结构不同,外部磁场、探头放置位置的几何形状不一致等因素均可影响仪器的读数结果,所以在测定中较好要进行反复校准,以保证结果的可靠性,不同膜厚的测定精度约在±(5%~10%),详见GB/T4956-2003《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚1度测量磁性法》。
(2)非磁性法用于测定非磁性基板(如铝板等)上的涂膜厚度,可用感应厚度计、穿透厚1度计、涡流厚度计等仪器进行测量,其中涡流厚度仪较为常用,仪器操作与磁性测厚仪相似。涡流方法是将探头(内置高频电流线圈)置于涂层上,在被测涂层内产生高频1磁场,由此引起金属内部涡流,此涡流产生的磁场又反作用于探头内线圈,令其阻抗变化。随基体表面涂层厚度的变化,探头与基体金属表面的间距改变,反作用于探头线圈的阻抗亦发生相应改变。由此,测出探头线圈的阻抗值就可间接反映出涂层的厚度。详见GB/T4957-2003《非磁性基体金属上非导电覆盖层覆盖层厚度测量涡流法》。
(3)×射线荧光法此种方法适用于测量任何金属或非金属基体上15pm以下各种涂层的厚度,可以对面积极小的试样和较薄(百分之几微米)的涂层、形状较其复杂的试样进行测厚。该法也可用于同时测量基体多层涂敷的复合层厚度,还可以在测量二元合金厚度的同时,测出合金层的成分(成分分析).其工作原理是利用X射线激发涂层,通过测量被测涂层衰减之后的X射线强度来测定涂层的厚度。在使用千分尺、杠杆千分尺、测微计等类似的仪器时,通过测定涂膜和基板总厚度与除去膜层后的基板厚度,或涂膜与基板之间的距离来确定涂膜的厚度。在操作过程中要注意,除膜前测定时,仪器要慢慢移近试样接触涂膜,使涂膜不能有明显的损坏。用除膜剂除去涂膜,再测定,求出其差值即为一面的涂膜厚度;再除去另一面涂膜,测定另一面涂膜厚度。
(5)显微镜法广泛地用于测定各种涂膜厚度,但膜不能太软。一种常用来测量涂膜厚度的测厚仪,其原理是用不同角度的刀切割涂膜,然后在带有照明灯泡的显微镜下用显微镜上的标尺观察测量涂膜断面的厚度。这种方法可直观地观察涂膜断面,因此,该方法除了可测量涂膜总厚度外,还可测量涂膜的各层厚度。
(6)失重法用脱膜剂化学法将**涂层膜除去,称前后质量变化,根据失重计算得到涂层厚度。此方法测得的是涂层的平均厚度,同时较好做空白试样的对比试验。
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